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Mini/Micro-LED加速量產(chǎn),顯示器件良率提升有話要說!

放大字體  縮小字體 發(fā)布日期:2022-05-06 來源:半導(dǎo)體照明網(wǎng)瀏覽次數(shù):529
  半導(dǎo)體照明網(wǎng)消息:顯示技術(shù)也日新月異,已經(jīng)成為我們?nèi)粘I畈豢苫蛉钡慕M成部分。從各種消費(fèi)者器件到大型燈箱廣告,以及流行的車載顯示和虛擬現(xiàn)實(shí)等高新顯示技術(shù),都推動(dòng)了顯示器件從傳統(tǒng)的液晶顯示(LCD)過渡到有機(jī)發(fā)光二極管(OLED)以及微發(fā)光二極管(micro-LED)等新技術(shù)。
 
  據(jù)了解,今年Touch Taiwan 2022 上,富采/聚積/友達(dá)/錼創(chuàng)大秀Mini/Micro LED技術(shù)。其中,LED整合大廠富采因應(yīng)市場(chǎng)需求,今年持續(xù)擴(kuò)建MiniLED產(chǎn)能,預(yù)計(jì)今年集團(tuán)兩岸MiniLED產(chǎn)能將再提升25%,同時(shí)亦積極與客戶整合巨量轉(zhuǎn)移技術(shù)、加速M(fèi)icro LED導(dǎo)入量產(chǎn)進(jìn)程。
 
  另外,錼創(chuàng)成功發(fā)表9.38英寸、114ppi、分辨率為960x480的透明Micro LED顯示器,穿透率達(dá)65-70%。錼創(chuàng)表示,>70%將可符合車廠所要求的規(guī)格,未來將有可能導(dǎo)入車用市場(chǎng)之中。?
 
  這些新技術(shù)的誕生為半導(dǎo)體器件生產(chǎn)過程中的良率提升及失效分析帶來了新的挑戰(zhàn)。不論是Mini/Micro-LED還是OLED,技術(shù)都需要更嚴(yán)格的設(shè)計(jì)和生產(chǎn)參數(shù)。對(duì)于主流顯示技術(shù)而言,加工工藝控制(例如:測(cè)量)和失效分析(FA)是提高良率和質(zhì)量的關(guān)鍵。有分析指出,最新的顯示屏結(jié)構(gòu)需要對(duì)背板和發(fā)光單元的關(guān)鍵尺寸(橫向和縱向)進(jìn)行精確控制。而這就需要高度精準(zhǔn)的測(cè)量。由于顆粒、污染或工藝偏差造成的缺陷會(huì)嚴(yán)重影響良率和質(zhì)量,因此在產(chǎn)品生命周期的早期階段,越來越詳細(xì)的失效分析是必不可少的。因此,如何快速有效的提升良率,并對(duì)失效進(jìn)行關(guān)鍵性分析,就成為半導(dǎo)體工業(yè)界所面臨的重要挑戰(zhàn)。
 
  據(jù)了解,在半導(dǎo)體器件的研發(fā)、測(cè)量和失效分析方面,賽默飛世爾科技提供一套獨(dú)特而全面的工作流程,來滿足顯示設(shè)備制造商的需求。其測(cè)量解決方案提供卓越的可復(fù)現(xiàn)性和高質(zhì)量的納米級(jí)分析能力。對(duì)于缺陷的隔離和分析,賽默飛的掃描電子顯微鏡(SEM)、聚焦離子束掃描電鏡(FIB-SEM)和透射電子顯微鏡(TEM)的解決方案可提供自動(dòng)化、高精度的樣品制備和行業(yè)領(lǐng)先的成像技術(shù)。
 
  為了更好的支持企業(yè)技術(shù),半導(dǎo)體照明網(wǎng)、極智課堂將聯(lián)合電鏡領(lǐng)域國際代表性企業(yè)賽默飛世爾科技中國的專家,來一場(chǎng)與電鏡技術(shù)相關(guān)的線上面對(duì)面對(duì)的探討交流,敬請(qǐng)關(guān)注!


【直 播 預(yù) 告】

  演講主題:“更快,更深,更全”--高效率雙束電鏡在半導(dǎo)體量產(chǎn)工業(yè)領(lǐng)域的應(yīng)用
 
  主講嘉賓:蔡琳玲 (賽默飛世爾科技PFA業(yè)務(wù)拓展經(jīng)理)
 
  課程簡(jiǎn)介:雙束電鏡是半導(dǎo)體工業(yè)領(lǐng)域過程控制以及失效分析的重要手段,它可以實(shí)現(xiàn)定點(diǎn)位置的快速加工和高分辨SEM成像,而Xe+離子FIB(PFIB)技術(shù)有別于傳統(tǒng)的Ga+離子,具有更高的束流,可實(shí)現(xiàn)高通量的切割和表征,將數(shù)據(jù)處理時(shí)間縮短至數(shù)小時(shí)而不是以往所需的數(shù)天或數(shù)周,同時(shí)對(duì)于第三代半導(dǎo)體,Xe+離子加工技術(shù)還可有效避免Ga+污染。此報(bào)告將從FIB-SEM的基本原理和前沿技術(shù)出發(fā),重點(diǎn)介紹Helios 5 PFIB在芯片封裝、第三代半導(dǎo)體、顯示面板等領(lǐng)域的應(yīng)用優(yōu)勢(shì)。
 
  嘉賓簡(jiǎn)介:蔡琳玲在賽默飛世爾科技擔(dān)任PFA商務(wù)拓展經(jīng)理,有著10多年電鏡技術(shù)支持的從業(yè)經(jīng)驗(yàn),具有堅(jiān)實(shí)的顯微鏡理論基礎(chǔ)以及豐富的實(shí)際應(yīng)用經(jīng)驗(yàn),對(duì)于電鏡產(chǎn)品如何助力于邏輯、存儲(chǔ)、化合物半導(dǎo)體、封裝以及面板類產(chǎn)品的研發(fā)以及良率提升有著持續(xù)和深入的研究,對(duì)于半導(dǎo)體工業(yè)各類樣品的的失效分析方法都非常熟悉。基于她豐富的應(yīng)用經(jīng)驗(yàn),她可以為不同行業(yè)的客戶提供相適應(yīng)的EFA到PFA的失效解決方案。
 
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  關(guān)于賽默飛世爾科技:賽默飛世爾科技在全球商業(yè)擁有巨大的影響力,其進(jìn)入中國發(fā)展已近40年,其在中國的總部設(shè)于上海,并在北京、廣州、香港、成都、沈陽、西安、南京、武漢、濟(jì)南等地設(shè)有分公司,產(chǎn)品主要包括分析儀器、實(shí)驗(yàn)室設(shè)備、試劑、耗材和軟件等,提供實(shí)驗(yàn)室綜合解決方案,為各行各業(yè)的客戶服務(wù)。
 
  對(duì)于半導(dǎo)體制造商和電子行業(yè),其將電氣分析解決方案與 SEM、TEM、S/TEM、DualBeam FIB/SEM 以及高級(jí)軟件套件結(jié)合起來, 以最高的成功率和生產(chǎn)率提供根本原因分析。其業(yè)界領(lǐng)先的工作流程可以為加速IC設(shè)計(jì)和生產(chǎn)決策提供快速、準(zhǔn)確的解決方案。故障隔離和分析產(chǎn)品提供一流的圖像、豐富的功能集、橫斷面計(jì)量和自動(dòng)化,以加快工藝缺陷識(shí)別、減少產(chǎn)量損失和縮短新產(chǎn)品上市時(shí)間。
 
  賽默飛世爾科技為電子顯微鏡和微觀分析提供創(chuàng)新的解決方案,通過將高分辨率成像與各種規(guī)模和模式的物理、元素、化學(xué)和電氣分析相結(jié)合,通過最廣泛的樣本類型,讓客戶完成從問題到獲得可用數(shù)據(jù)的過程。

 
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