據外媒報道，日本光偵測器制造商Hamamatsu Photonics（濱松光子）開發了一個高速檢測系統，可在晶圓上快速檢測Micro LED芯片的質量。
據悉，該檢測系統名為MiNY PL，采用光致發光測試技術（PL）來檢測LED芯片外表、發光強度和波長的異常問題，所用光致發光測試技術是基于濱松光子的圖像處理技術和新開發的成像模組。
濱松光子表示，MiNY PL系統在檢測Micro LED芯片時能夠快速判斷芯片是否合格，這有利于提升顯示用Micro LED產品的良率及Micro LED的研發效率。
此外，MiNY PL系統將簡化未來Micro LED量產產線上100%的檢測過程。
圖片來源：濱松光子
無獨有偶，日前也有消息透露，蘋果正在開發Micro LED檢測系統，并且已經獲得相關專利。
蘋果的系統是在Micro LED芯片轉移至顯示面板之前對芯片質量進行檢測并精準定位，目的同樣是降低缺陷率和生產制程的損失，從而提高顯示屏的可靠性，保證產品質量。
Micro LED尺寸微縮化，芯片使用數量和轉移接合過程的工作量都大幅增加，若芯片缺陷率過高，就會降低后續制程的生產良率，增加返修工作量和整體成本。因此，從檢測芯片質量等前端制程開始把控生產良率尤為關鍵，但這也是Micro LED產業的難點之一。
為此，不少設備商加大對Micro LED檢測設備的研發力度，目前進度不一。不管具體細節如何，眼下相關消息表明了芯片質檢環節已有所突破，這對于Micro LED產業來說，是一大利好消息。
