11月26日上午,“超寬禁帶半導(dǎo)體技術(shù)” 分會(huì)如期召開。本屆分會(huì)由蘇州鍇威特半導(dǎo)體股份有限公司、中國電子科技集團(tuán)第十三研究所、國家電網(wǎng)全球能源互聯(lián)網(wǎng)研究院有限公司、英諾賽科科技有限公司協(xié)辦。
以金剛石、氧化鎵、氮化鋁、氮化硼等為代表的超寬禁帶半導(dǎo)體材料的研究和應(yīng)用,近年來不斷獲得技術(shù)的突破。超寬帶半導(dǎo)體材料具有更高的禁帶寬度、熱導(dǎo)率以及材料穩(wěn)定性,在新一代深紫外光電器件、高壓大功率電力電子器件等意義重大的應(yīng)用領(lǐng)域具有顯著的優(yōu)勢和巨大的發(fā)展?jié)摿Α?/p>
日本國立佐賀大學(xué)同步輻射光應(yīng)用研究中心主任、電氣電子系教授郭其新,西安電子科技大學(xué)教授張金風(fēng),瑞士Microdiamant研發(fā)部門負(fù)責(zé)人Christian JENTGENS,鄭州大學(xué)教授、日本名古屋大學(xué)客座教授劉玉懷,西安交通大學(xué)副教授李強(qiáng),北京大學(xué)劉放、中國科學(xué)技術(shù)大學(xué)趙曉龍等來自中外嘉賓聯(lián)袂帶來精彩報(bào)告。
深紫外線檢測技術(shù)具有重要的應(yīng)用,例如紫外線成像,紫外線/紅外線雙重引導(dǎo),預(yù)警系統(tǒng),紫外線通訊,紫外線干擾等。中國科學(xué)技術(shù)大學(xué)趙曉龍做了題為“ Ga2O3半導(dǎo)體器件-深紫外光電探測器”的主題報(bào)告,介紹了Ga2O3材料和DUV光電探測器、各種用于光檢測的半導(dǎo)體、適用于UVPD的寬帶隙Ga2O3半導(dǎo)體等現(xiàn)狀,大規(guī)模Ga2O3襯底的方法以及Ga2O3外延層生長的各種方法。
不過,Ga2O3光電探測器也存在挑戰(zhàn),比如PD陣列中的串?dāng)_、持久光電導(dǎo)(PPC),材料方面,由于O空位缺陷,P型Ga2O3難以實(shí)現(xiàn),低導(dǎo)熱性和流動(dòng)性;結(jié)構(gòu)上,Ga2O3 PN結(jié)尚未實(shí)現(xiàn);功能上單光子檢測仍然具有挑戰(zhàn)性。
報(bào)告同時(shí)指出,Ga2O3具有超寬的帶隙,低成本,高的熱穩(wěn)定性和化學(xué)穩(wěn)定性,因此被認(rèn)為是最有前途的紫外線檢測材料之一。Ga2O3紫外線光電探測器在高電場,高輻照度和高溫等極端環(huán)境中具有巨大潛力;Ga2O3紫外光電探測器的研究仍處于起步階段,從材料(缺陷),器件結(jié)構(gòu)和加工方法等方面存在一系列關(guān)鍵的科學(xué)技術(shù)問題。
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