11月26日上午，“Micro-LED與其他新型顯示技術”分會如期召開。本屆分會由山西中科潞安紫外光電科技有限公司、華燦光電股份有限公司、德國愛思強股份有限公司、北京北方華創微電子裝備有限公司協辦。
法國原子能委員會電子與信息技術實驗室研究主任Francois TEMPLIER，北京大學教授陳志忠，德國ALLOS Semiconductors首席技術官Atsushi NISHIKAWA，美國Lumiode, Inc.創立者兼總裁Vincent LEE，北方華創PVD事業部LED產品經理郭冰亮，和蓮光電科技股份有限公司董事長邰中和，南京大學電子科學與工程學院副院長、教授劉斌，德國Instrument Systems optische Messtechnik GmbH的Tobias STEINEL等來自中外的強勢力量聯袂帶來精彩報告。
德國Instrument Systems optische Messtechnik GmbH的Tobias STEINEL做了題為“用于μ-LED和OLED顯示器和晶圓的亞像素評估的成像光測量設備µ-LED市場預計將急劇增長”的主題報告，分享了µ-LED / OLED顯示測試在生產中的挑戰，µ-LED晶圓測試在生產中的挑戰，顯示器生產測試的解決方案，標準顯示測試，測試µ-LED晶圓（或小型顯示器），亞像素表征（µ-LED，OLED），缺陷像素評估，在線µ-LED（-OLED）測試等內容。
報告顯示，µ-LEDs可能是破壞性的顯示技術，µ-LED晶圓測試需要基于相機的測量概念，以實現合理的生產節拍時間。卓越的µ-LED技術需要高性能和極高分辨率的LMD才能進行快速生產測試，亞像素評估和校準需要復雜的算法和分析工具。
（內容根據現場資料整理，如有出入敬請諒解）
