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廈門大學電子科學系呂毅軍教授:基于顯微高光譜成像技術的發(fā)光器件/陣列表面光熱特性分布測試

放大字體  縮小字體 發(fā)布日期:2018-11-01 來源:中國半導體照明網綜合作者:JACK瀏覽次數(shù):930
   近年來,隨著各種半導體發(fā)光材料和器件的不斷發(fā)展,新型顯示技術與照明技術的結合更加緊密,為未來顯示與照明技術的交叉和多元化應用奠定了基礎。從器件角度看,新型顯示與照明技術所對應的發(fā)光器件包括:Micro-LED、有機發(fā)光二極管(OLEDs)、量子點發(fā)光二極管(QLEDs)、半導體激光器、鈣鈦礦發(fā)光二極管(PerLEDs),以及其他新型半導體發(fā)光器件。其中,Micro-LED近年來發(fā)展尤為迅速,未來發(fā)展可期。
 
  2018年10月23日-25日,第十五屆中國國際半導體照明論壇(SSLCHINA 2018)暨2018國際第三代半導體論壇(IFWS 2018)在深圳會展中心盛大召開。24日,“Micro-LED與其他新型顯示技術”分會聚集了國內外知名專家和企業(yè)代表,共同探討了Micro-LED等新型顯示技術前沿進展。
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  本屆論壇由國家半導體照明工程研發(fā)及產業(yè)聯(lián)盟(CSA)、第三代半導體產業(yè)技術創(chuàng)新戰(zhàn)略聯(lián)盟(CASA)、深圳市龍華區(qū)人民政府主辦,國家科學技術部高新技術發(fā)展及產業(yè)化司、國家科學技術部國際合作司、國家工業(yè)與信息化部原材料工業(yè)司、國家節(jié)能中心、深圳市科技創(chuàng)新委員會和張家港高新技術產業(yè)開發(fā)區(qū)特別支持,深圳市龍華區(qū)經濟促進局、深圳市龍華區(qū)科技創(chuàng)新局、深圳第三代半導體研究院、北京麥肯橋新材料生產力促進中心有限公司承辦。
 
  “Micro-LED與其他新型顯示技術分會”作為論壇重要分會之一,今年繼續(xù)設定為“主題日”活動。分會得到了愛思強、德豪潤達、國星光電、晶科電子的支持協(xié)辦。會上,來自廈門大學電子科學系教授、福建省半導體照明工程技術研究中心副主任呂毅軍分享了《基于顯微高光譜成像技術的發(fā)光器件/陣列表面光熱特性分布測試》研究報告。
呂毅軍
  呂毅軍現(xiàn)任廈門大學電子科學系教授、博導,福建省半導體照明工程技術研究中心副主任。2000年廈門大學物理系凝聚態(tài)物理專業(yè)博士畢業(yè)。主要從事半導體材料及器件檢測表征、半導體照明技術開發(fā)、儀器研制。作為廈門大學代表參與國家“半導體照明標準工作組”標準制定研究工作,參與了多項國家標準的研究與制定工作。先后主持和承擔了多項國家863專項、科技部國際合作項目、福建省重點科技項目。已在國內外重要學術刊物上發(fā)表五十幾篇學術論文,獲得10項國家發(fā)明專利,獲福建省科技進步獎一等獎1次,二等獎3次。
 
  他在報告中指出,顯微高光譜成像技術結合高光譜和顯微技術,獲得探測目標的二維幾何空間及一維光譜信息的數(shù)據(jù)立方。同時具有高空間分辨率和高光譜分辨率的優(yōu)點。是進行微小發(fā)光器件/陣列表面光譜探測的理想工具。我們基于顯微高光譜開發(fā)了發(fā)光器件/陣列表面光熱二維分布測試技術。
 
  鹵鎢燈與小積分球組成標準輻亮度光源用于顯微高光譜成像系統(tǒng)輻亮度光譜校正。我們測試了OLED、MicroLED各像素點的輻亮度光譜,進一步計算得到OLED、MicroLED表面亮度、色度分布。
 
  另外,根據(jù)發(fā)光光譜質心波長隨溫度變化的線性關系,利用顯微高光譜技術測量LED表面二維溫度分布。質心波長-溫度線性關系二維溫度函數(shù)矩陣通過電壓或電流脈沖信號校正。根據(jù)該矩陣可獲得工作條件下LED表面各點的二維溫度分布。顯微高光譜光熱二維分布測試技術不僅可獲得微小器件表面亮度、色度二維分布,同時其溫度分布空間分辨率大大高于熱像儀。【根據(jù)會議資料整理,如有出入敬請諒解!】
 
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