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韓國嶺南大學教授Ja-soon JANG:GaN基LED器件可靠性特性分析方法

放大字體  縮小字體 發布日期:2017-11-22 來源:中國半導體照明網作者:JACK瀏覽次數:325
  可靠性與熱管理技術一直是制約LED照明高品質的重要因素,如今對于可靠性的關注點已經從LED單個產品向整個系統可靠性的方向發展。其中,新型散熱材料、熱管理技術、LED照明系統可靠性研究及設計、故障數據與失效分析等技術的進步等都影響整個系統的可靠性。
  近日,由北京市順義區人民政府、第三代半導體產業技術創新戰略聯盟(CASA)和國家半導體照明工程研發及產業聯盟(CSA)主辦的第十四屆中國國際半導體照明論壇暨 2017 國際第三代半導體論壇在北京順義隆重召開。期間,由北京工業大學光電子技術省部共建教育部重點實驗室與廣州金鑒檢測科技有限公司共同協辦的“可靠性與熱管理技術”上,韓國嶺南大學教授Ja-soon JANG 介紹了GaN基發光二極管器件可靠性特性分析方法技術報告。
  他表示,發光二極管(LED)技術已經迅速發展以滿足LED應用領域的各種需求,如汽車照明,手術照明和IT可控智能照明。 隨著LED的重要性越來越大,可靠性問題越來越重要。
 
  他分享了最近的可靠性問題,并考慮到可以解決可靠性問題的可行方法。為此,我們從遺傳個體和外部誘導的退化因素、復雜因素和觸發因子等方面進行研究,新提出了影響LED可靠性行為的邊界條件(芯片和封裝之間)以及影響因素,以確保LED的哪些部分易受器件可靠性特性的影響。
 
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