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天津大學(xué)副教授梅云輝:雙面半橋IGBT模塊(1200V / 600A)的納米銀漿燒結(jié)

放大字體  縮小字體 發(fā)布日期:2017-11-06 來源:中國半導(dǎo)體照明網(wǎng)瀏覽次數(shù):1082
   2017年11月1日-3日,由第三代半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)技術(shù)創(chuàng)新戰(zhàn)略聯(lián)盟、北京市順義區(qū)人民政府主辦的2017 國際第三代半導(dǎo)體論壇在北京順義隆重召開。在2日上午,舉行“SiC/GaN電力電子封裝、模塊及可靠性”分會上,來自天津大學(xué)的副教授梅云輝做了“雙面半橋IGBT模塊(1200V / 600A)的納米銀漿燒結(jié)”研究報告。
梅云輝
  他介紹了高功率雙面多芯片相橋IGBT模塊的設(shè)計和特性,模塊性能為1200 V / 600A。與傳統(tǒng)的線焊IGBT模塊相比,IGBT模塊的功率密度有很大提高。
 
  他表示,現(xiàn)在我們?nèi)耘f面臨著一些挑戰(zhàn),因?yàn)樗膫鹘y(tǒng)模式會出現(xiàn)一些熱阻擋,由于材料的限制,因此它只能在低溫的情況下運(yùn)作,而材料的可靠性也是有所缺乏,所以現(xiàn)在要去改善它的性能,并且提高運(yùn)作的效率,我們要去使用高溫可靠的材料。
 
  我們也提出了一些解決方案,使用的是雙邊的半橋模型,使用的是雜散電感,芯片的雙面都使用了這樣的材料,從而降低熱阻擋,并且在芯片的表面可以降低熱擴(kuò)散,也可以提高連接的可靠性。很多人已經(jīng)提到了關(guān)于銀的燒結(jié)連接頭,它有很多的性能,有很多優(yōu)勢,比如熱阻擋能力更強(qiáng),可靠性更強(qiáng),它的熔點(diǎn),由于熔點(diǎn)高所導(dǎo)致的,比如說一個教授也提到我們將它的溫度從40攝氏度提高到150攝氏度,而且我們也可以大大提高它的功率循環(huán),這是非常好的一個進(jìn)步。因此都說明的銀的燒結(jié)連接頭的性能是非常好的。
 
  其中,模塊采用納米銀漿作為芯片互連材料,避免了高溫下的蠕變破壞,因而最高工作溫度從125℃提高到175℃甚至更高。四個大面積IGBT芯片(1200V / 150A ,12.56mm×12.56mm),以及四個續(xù)流二極管(1200V / 150A)并聯(lián)連接在一個DBC襯底上,形成一個電橋。制造的雙面IGBT模塊的尺寸僅為70mm×59mm×4.05mm。在不同的電流下,對此IGBT模塊的熱,機(jī)械,電氣性能進(jìn)行了表征。還進(jìn)行了電源循環(huán)測試,來評估雙面IGBT模塊的可靠性,以驗(yàn)證模塊設(shè)計的可行性。
 
  無壓的燒結(jié)工藝是可以對這種雙邊燒結(jié)來進(jìn)行的,但是我們可以通過雙邊帶進(jìn)行控制的,我們制造了便的半電橋的模型,使用的是電基礎(chǔ)化,不是上線連接這樣的IGBT的器件是采用無壓燒結(jié)方式,同時加上緩沖帶,我們可以看到,通過這樣一些工藝,性能和緩沖能大大提高。(根據(jù)現(xiàn)場速記整理,如有出入敬請諒解!)
 
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