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荷蘭Ampleon公司可靠性專家陶國(guó)橋:開發(fā)GaN技術(shù)晶圓級(jí)可靠性

放大字體  縮小字體 發(fā)布日期:2017-11-05 來(lái)源:中國(guó)半導(dǎo)體照明網(wǎng)瀏覽次數(shù):1602
  2017年11月1日-3日,第十四屆中國(guó)國(guó)際半導(dǎo)體照明論壇(SSLCHINA2017)暨 2017 國(guó)際第三代半導(dǎo)體論壇(IFWS 2017)在北京順義隆重召開。論壇由國(guó)家半導(dǎo)體照明工程研發(fā)及產(chǎn)業(yè)聯(lián)盟、第三代半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)技術(shù)創(chuàng)新戰(zhàn)略聯(lián)盟、北京市順義區(qū)人民政府主辦,中關(guān)村科技園區(qū)順義園管理委員會(huì)、北京半導(dǎo)體照明科技促進(jìn)中心和北京麥肯橋新材料生產(chǎn)力促進(jìn)中心有限公司承辦。論壇同時(shí)得到了科技部、發(fā)改委、國(guó)標(biāo)委和北京市科委等主管部門的大力支持。
 
  11月2日下午,IFWS 2017之第三代半導(dǎo)體與微波射頻技術(shù)分會(huì)如期舉行。分會(huì)由中國(guó)電子科技集團(tuán)第十三研究所和專用集成電路重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室協(xié)辦,主題涵蓋氮化鎵微波器件及其單片集成電路材料外延、建模、設(shè)計(jì)與制造、可靠性技術(shù)及其在移動(dòng)通信中的應(yīng)用等各方面,邀請(qǐng)國(guó)內(nèi)外知名專家參加會(huì)議,呈現(xiàn)第三代半導(dǎo)體微波器件及其應(yīng)用的最新進(jìn)展。
 
  英國(guó)布里斯托大學(xué)教授Martin KUBALL、中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第十三研究所研究員馮志紅、南京電子器件研究所高級(jí)工程師吳少兵、西安電子科技大學(xué)副教授鄭雪峰、中興通訊股份有限公司射頻功放平臺(tái)總工劉建利、荷蘭Ampleon公司W(wǎng)LR可靠性專家陶國(guó)橋等國(guó)內(nèi)外相關(guān)領(lǐng)域?qū)<曳窒砀髯缘难芯砍晒V袊?guó)電子科技集團(tuán)公司第十三研究所副所長(zhǎng)、研究員級(jí)高工蔡樹軍,蘇州能訊高能半導(dǎo)體有限公司董事長(zhǎng)張乃千共同主持本次分會(huì)。

荷蘭Ampleon公司W(wǎng)LR可靠性專家 陶國(guó)橋

會(huì)議現(xiàn)場(chǎng)
 
  可靠性的重要性不言而喻,氮化鎵作為一個(gè)新的器件,提高技術(shù)的可靠性也是業(yè)界一直關(guān)注并且努力的方向。會(huì)上,荷蘭Ampleon公司W(wǎng)LR可靠性專家陶國(guó)橋做了開發(fā)GaN技術(shù)晶圓級(jí)可靠性的報(bào)告,他表示,可靠性要追求長(zhǎng)時(shí)間的穩(wěn)定,需要關(guān)注很多細(xì)致的方面,結(jié)合具體的試驗(yàn)數(shù)據(jù),他介紹了制造流程和WLR(圓片級(jí)可靠性)、功率型射頻應(yīng)用以及可靠性期望等內(nèi)容。
 
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   (內(nèi)容根據(jù)現(xiàn)場(chǎng)資料整理,如有出入敬請(qǐng)諒解)
 
  
 
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