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Matteo Meneghini博士:GaN LED高可靠性研究“新解密”

放大字體  縮小字體 發(fā)布日期:2015-08-17 來(lái)源:中國(guó)半導(dǎo)體照明網(wǎng)瀏覽次數(shù):161
   作為中國(guó)地區(qū)最具國(guó)際影響力的半導(dǎo)體照明及智能照明行業(yè)年度盛會(huì),以及業(yè)界最為關(guān)注的論壇之一,第十二屆中國(guó)國(guó)際半導(dǎo)體照明論壇(SSLCHINA 2015)將于2015年11月2-4日在深圳會(huì)展中心舉辦,論壇緊扣時(shí)代發(fā)展脈搏與產(chǎn)業(yè)發(fā)展趨勢(shì),以“互聯(lián)時(shí)代的LED+”為大會(huì)主題,探討產(chǎn)業(yè)發(fā)展大勢(shì)。解讀產(chǎn)業(yè)新政策,推薦產(chǎn)業(yè)新技術(shù)、新應(yīng)用,引導(dǎo)和解決產(chǎn)業(yè)發(fā)展共性問(wèn)題。
 
  本屆大會(huì)特邀科技部副部長(zhǎng)、國(guó)家制造強(qiáng)國(guó)建設(shè)領(lǐng)導(dǎo)小組副組長(zhǎng)曹健林擔(dān)任中方主席,外方主席為國(guó)際照明委員會(huì)主席Yoshi Ohno,組委會(huì)秘書(shū)長(zhǎng)為國(guó)際半導(dǎo)體照明聯(lián)盟(ISA)主席、國(guó)家半導(dǎo)體照明工程研發(fā)及產(chǎn)業(yè)聯(lián)盟(CSA)秘書(shū)長(zhǎng)吳玲。目前開(kāi)閉幕大會(huì)、技術(shù)分會(huì)等特邀嘉賓正在全球征集中。
 
  據(jù)組委會(huì)最新消息,意大利帕多瓦大學(xué)的Matteo Meneghini博士將出席本次論壇,并在P203“可靠性與熱管理技術(shù)分會(huì)”上將分享GaN LED高可靠性的研究成果。
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Matteo Meneghini博士
 
  在過(guò)去的10年間,由于GaN基LED發(fā)光效率高、內(nèi)在穩(wěn)健性優(yōu)良及芯片尺寸較小而被證明為高功率光源制造的優(yōu)選器件。因此,這類(lèi)器件在多個(gè)領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用,包括通用、工業(yè)、汽車(chē)和生物醫(yī)學(xué)照明等。這些應(yīng)用要求高可靠性(壽命 > 50000 h)及流明輸出的長(zhǎng)期穩(wěn)定性。有幾項(xiàng)報(bào)告顯示高功率LED可能會(huì)因?yàn)闈u變或突發(fā)失效機(jī)制而發(fā)生過(guò)早衰減。
 
  此次論壇上,Matteo Meneghini博士將通過(guò)介紹最新研究成果討論造成GaN基高效率LED衰減的物理機(jī)制,包括非放射性缺陷及連接處產(chǎn)生分路而造成器件放射層衰減,熒光粉封裝系統(tǒng)衰減,并導(dǎo)致LED色度屬性減弱,由于靜電放電和電氣過(guò)應(yīng)力而導(dǎo)致突發(fā)失效。同時(shí)報(bào)告參考了相關(guān)的最近研究文獻(xiàn),可以讓業(yè)界同行對(duì)這一課題產(chǎn)生清晰的理解。
 
  Matteo Meneghini擁有帕多瓦大學(xué)的電子和通信工程博士學(xué)位,主要研究GaN基LED和激光結(jié)構(gòu)的優(yōu)化。他現(xiàn)任帕多瓦大學(xué)信息工程系助理教授,主要研究方向是化合物半導(dǎo)體器件(LED、激光二極管、HEMT)的特性、可靠性和仿真。
 
  在科研工作中,他曾發(fā)表200多篇期刊和會(huì)議論文。他還曾與多家半導(dǎo)體公司及研究中心進(jìn)行合作和/或聯(lián)合發(fā)表論文,其中包括:歐司朗、松下公司、恩智浦半導(dǎo)體(荷蘭)、安森美半導(dǎo)體(比利時(shí)/美國(guó)) 、Universal Display Corporation(美國(guó)) 、Sensor Electronic Technologies(美國(guó)) 、比利時(shí)微電子研究中心(IMEC)、英飛凌(奧地利)、弗勞恩霍夫固體物理研究所(德國(guó))、 劍橋大學(xué)(英國(guó))、 加州大學(xué)圣芭芭拉分校(美國(guó))、維也納大學(xué)(奧地利)等。
 
  此外,Matteo Meneghini是IEEE的高級(jí)會(huì)員,也是國(guó)際光學(xué)工程學(xué)會(huì)(SPIE)的會(huì)員。他曾與同事一起在多個(gè)國(guó)際會(huì)議上(包括ESREF、IWIN、ESSDERC、IEEE-IRPS)獲得最佳論文獎(jiǎng)。為獎(jiǎng)勵(lì)他在帕多瓦大學(xué)所進(jìn)行的科學(xué)研究,他獲得“2008年卡羅奧菲獎(jiǎng)”(最佳青年研究員)。
 
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關(guān)鍵詞: Matteo Meneghini GaN LED 可靠性
 
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